【創(chuàng)新前沿】僅1顆外圍的AC過零檢測芯片
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PN1000方案六大亮點
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BOM精簡：僅需1個外圍元器件，便于生產加工和小型化設計
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寬輸入電壓：AC輸入電壓75~300Vac
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高精度檢測技術：內置高精度過零檢測電路
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高可靠性：ACIN耐壓700V，ACZO ESD大于3.5KV
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智能保護：輸出過載保護、短路保護、開路保護、過溫保護
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超低待機功耗：小于30mW
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PN1000方案過零檢測原理
PN1000是一款過零檢測專用芯片，內置有700V高耐壓功率管和高精度的過零檢測電路，具有極低的待機功耗。工作時，芯片ACIN端子通過一個限流電阻接在市電一個輸入端，芯片GND端子連接市電另外一個輸入端同時也連接應用系統(tǒng)地，芯片ACZO端子輸出過零信號。在市電輸入電壓正半周期，ACIN端子電壓大于GND端子電壓，內部檢測電路會產生一個5V左右的電壓信號并通過ACZO端子輸出；在市電輸入電壓負半周期，ACIN端子電壓小于GND端子電壓，內部檢測電路處于截止狀態(tài)，同時ACZO端子輸出一個接近0V電壓信號。PN1000通過這種實時檢測輸入電壓正負周期變化，輸出一個高精度的過零點信號，可直接送給如MCU控制器來進行處理。
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Demo實物圖及圖紙
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PN1000方案與三極管過零檢測方案BOM及性能對比
4.1三極管過零檢測方案線路圖
4.2 Bom比對
PN1000方案比三極管過零檢測方案省6顆元件，易于小型化設計。
4.3 過零檢測芯片與三極管過零檢測主要性能對比
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過零檢測芯片測試數(shù)據(jù)
5.1 過零工作波形
測試條件：Vin＝115/230Vac
測試波形如下：CH1:AC_zero，CH4:AC_input
115Vac過零波形
230Vac過零波形
5.2 EFT測試
測試條件：Vin=230Vac，EFT 4KV；
測試結果：PASS
5.3 Surge測試
測試條件：Vin=230Vac，差模雷擊2KV；
測試結果：PASS
5.4 EMI測試
測試條件：Vin=230Vac，PN1000過零檢測芯片搭配Buck-Boost電源5V/0.2A系統(tǒng)測試
測試結果：滿足EN55022 Class B標準要求
L相線
N相線
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應用要點
1 ?PN1000 僅適用于單二極管或者兩顆二極管直接串聯(lián)的半波整流系統(tǒng)。
2 ?ACIN通過1顆電阻接到輸入整流二極管之前，繞線保險電阻和壓敏電阻之后，GND腳直接接系統(tǒng)輸出地，推薦電阻值10K/1206。
3 ?ACIN腳與ACZO、GND腳走線之間需要滿足安規(guī)要求, 推薦2.5mm以上的爬電距離。
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